Сотрудники «Центра технологий National Instruments» СФУ подготовили к изданию учебное пособие нового поколения
В издательстве ДМК-Пресс при поддержке Российского представительства корпорации National Instruments готовится к выпуску книга «Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением Internet-технологий». Авторы: А. С. Глинченко, Н. М. Егоров, В. А. Комаров, А. В. Сарафанов.